HS-DR-5導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀的核心部件就是超薄膜式探頭，探頭的材料是由刻蝕后的電熱金屬鎳絲，其結(jié)構(gòu)是由多圈雙螺旋構(gòu)成，同時(shí)做為加熱和傳感器，探頭用聚酰亞胺薄膜封裝，一方面可以防止電熱鎳絲被腐蝕，另一方面可以防壓保護(hù)探頭不會(huì)變形。在實(shí)驗(yàn)時(shí)，探頭被緊密夾在二塊被測(cè)樣品之間，測(cè)量電路是由探頭和標(biāo)準(zhǔn)電阻串聯(lián)，給該電路提供恒定電壓，使探頭產(chǎn)生熱量，溫度升高引起探頭的電阻變化，根據(jù)探頭電阻的變化可以精確求出其近表面的溫升曲線，再依據(jù)溫升曲線對(duì)傳熱模型進(jìn)行擬合，就可求出材料的導(dǎo)熱系數(shù)和熱擴(kuò)散系數(shù)。